服務熱線:0415-6171977

薄膜分析
  X射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值。采用精密的晶格參數的測量方法,可以很準確的確定晶格的外延層及其基底。在外延器件中晶格參數匹配或不匹配是一個重要因素如磁泡存儲器的磁性石榴石薄膜,LED用摻雜砷化鎵薄膜和高速晶體管和其他重要的電子產品。對于薄膜X射線衍射的另一個應用是使用高溫衍射通過測定晶格參數隨溫度的變化來確定熱膨脹系數。

彩票软件公司 鼎顺配资 雷速体育号如何发送收费比赛 湖北十一选五 股票交易费计算器 日照股票配资公司 四川金7乐 股票涨跌怎么形成 尚鹏配资 p3试机号 黑龙江22选5 陕西快乐10分 辽宁快乐12 福建31选7 浙江快乐彩 篮网球比分 二分彩