服務熱線:0415-6171977

薄膜分析
  X射線衍射對于研究外延層和其他薄膜材料具有特殊價值。采用精密的晶格參數的測量方法,可以很準確的確定晶格的外延層及其基底。在外延器件中晶格參數匹配或不匹配是一個重要因素如磁泡存儲器的磁性石榴石薄膜,LED用摻雜砷化鎵薄膜和高速晶體管和其他重要的電子產品。對于薄膜X射線衍射的另一個應用是使用高溫衍射通過測定晶格參數隨溫度的變化來確定熱膨脹系數。

彩票软件公司 幸运农场计划 上市公司股权评估 广西快乐十分开奖数据 十佳股票配资平台 陕西快乐十分技巧 股票软件怎么看 11选5中奖助手app 北京时时彩分析软件 pk10北京赛车app下载 彩票玩法规则 甘肃11选5任五遗漏丶 惠配资 青海快3怎么买 002456股票分析 云南快乐十分走势图人 棋牌赌场论坛