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晶粒尺寸測定:
  納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數據。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以精確測定納米粒子的平均粒徑。


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