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  材料晶體的晶粒在不同程度上圍繞某些特殊的取向排列,就稱為擇優取向或簡稱織構。在x射線衍射測量中,為了表示晶粒的取向分布統計信息,人們采用極圖來直觀表示。極圖就是將晶粒某一晶面{H,K,L}的法線在宏觀坐標系中的空間取向進行極射赤道平面投影所得到的圖,極圖能反映材料的一部分取向信息。X射線衍射儀和5維轉臺組合,為材料及材料制品的織構測量提供可靠的檢測方法。


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